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WAVERAY · 案例與教程

Exact Sequential Ray Trace

執行精確順序光線追跡,並查看系統與面資料。

本教程演示如何在 WaveRay 中完成“Exact Sequential Ray Trace”,使用與主題精確匹配的真實軟體截圖,講解設定、運行、結果讀取與常見注意事項。

本教程將完成什麼

執行精確順序光線追跡,並查看系統與面資料。

開始之前:你需要能運行該產品,並盡量使用自己的真實參數或資料來跟著操作。以下截圖已經按主題人工重配,避免前一版出現的圖文錯配。
Exact Sequential Ray Trace - 打開對應模組並確認起始狀態。
打開對應模組並確認起始狀態。
Exact Sequential Ray Trace - 設定與主題匹配的關鍵輸入。
設定與主題匹配的關鍵輸入。
Exact Sequential Ray Trace - 運行流程並檢查結果 / 狀態。
運行流程並檢查結果 / 狀態。

逐步操作

1打開模組

打開 Exact Sequential Ray Trace。 先確認當前頁面與本教程主題一致。

2設定輸入

準備並檢查:光學系統結構、面參數與追跡條件。

3運行並觀察狀態

確認系統參數後運行追跡,查看表格化的系統結果。 運行時同時觀察介面狀態、圖表或日誌區域。

4讀取結果

重點查看:順序追跡結果與系統面參數概覽。

5驗證並迭代

順序光線追跡對系統結構一致性要求很高,修改面參數後應重新檢查整體定義。 建議只修改一個關鍵參數後再次運行,以便驗證結果變化是否符合預期。

如何讀取結果

  • 本流程最重要的結果是:順序追跡結果與系統面參數概覽。
  • 解釋結果時要結合本次輸入參數,單獨看截圖往往不夠。
  • 順序光線追跡對系統結構一致性要求很高,修改面參數後應重新檢查整體定義。

常見問題與實用提示

  • 如果介面沒有變化,先檢查是否打開了正確模組。
  • 如果結果明顯不合理,優先檢查單位、資料字段映射和輸入量級。
  • 做對比實驗時盡量一次只修改一個關鍵參數。